产品
♦一堆多芯，接线方便
❖高密度应用节省布线空间
符合IEC-61754-7、GR-1435等标准
♦4核、8核、12核、16核、24核可选
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测试项目 |
多模（PC） |
单模式（APC） |
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插入损耗（IL） |
标称 -损失 |
低损耗 |
标称 |
低损耗 |
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≤0.5天 乙 |
≤0.3天 乙 |
≤0.7天 乙 |
≤0.35天 乙 |
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回波损耗（RL） |
≥25天 乙 |
≥60天 乙 |
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工作温度（℃） |
- 40 ~ + 85 |
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测试波长（ 纳米） |
850/1300 |
1310/1550 |
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